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超高分辨场发射扫描电镜(配能谱元素分析)

负责人: 蔡红英
联系方式:62796284

  
仪器名称 超高分辨场发射扫描电镜(配能谱元素分析)
仪器型号、生产厂家 JSM 7401型, 日本电子(JEOL)
基本性能、指标

分辨率15kv,1.0nm/1kv,1.5nm;加速电压100V-30kV
放大倍数 ×25~106
加速电压 0.1 kV to 30 kV 束流强度 10-13A to 2×10-9A
电子枪种类 冷场发射电子枪 探测器 高位探头 低位探头
马达控制 3 axes (XYR) 实时图像分辨率 1280 × 1024
自动聚焦、曝光、消像散

用途 1. 可对各种有机、无机、纳米材料进行微观形态研究,获得其表面形貌;
对于不导电样品可以直接观察,不需要镀金。
2. 用于晶体材料的取向信息与结构信息分析。
3. 含图像处理软件,可以直接从图像中获得粒径统计信息。
4. 图像可以伪彩处理。
收费标准  元/时
          元/每样品
350元/时
存放地点 清华大学化工系工物馆104
负责人姓名 蔡红英